x射线检测仪

时间:2024-07-24 03:47:02编辑:奇事君

什么是X-RAY检测仪?

X-RAY无损检测X光射线(以下简称X-Ray)是利用一阴极射线管产生高能量电子与金属靶撞击,在撞击过程中,因电子突然减速,其损失的动能会以X-Ray形式放出,其具有非常短的波长但高电磁辐射线。而对于样品无法以外观方式检测的位置,利用纪录X-Ray穿透不同密度物质后其光强度的变化,产生的对比效果可形成影像即可显示出待测物之内部结构,进而可在不破坏待测物的情况下观察待测物内部有问题的区域。\x0d\x0a\x0d\x0a检测项目:\x0d\x0a1.IC封装中的缺陷检验如_层剥离(stripping)、爆裂(crack)、空洞(cavity)以及打线的完整性检验。\x0d\x0a2.印刷电路板制程中可能产生的缺陷,如_对齐不良或桥接(bridging)以及开路(open)。\x0d\x0a3.SMT焊点空洞(cavity)现象检测与量测(measuration)。\x0d\x0a4.各式连接线路中可能产生的开路(open),短路(short)或不正常连接的缺陷检验。\x0d\x0a5.锡球数组封装及覆芯片封装中锡球(solderball)的完整性检验。\x0d\x0a6.密度较高的塑料材质破裂(plasticburst)或金属材质空洞(metalcavity)检验。\x0d\x0a7.芯片尺寸量测(dimensionalmeasurement),打线线弧量测,组件吃锡面积(Solderarea)比例量测。\x0d\x0a\x0d\x0a标准:\x0d\x0a1)IPC-A-610D(E)电子组件的可接受性。\x0d\x0a2)MIL-STD883G-2006微电子器件试验方法和程序\x0d\x0a3)GJB548B-2005微电子器件试验方法和程序\x0d\x0a4)GJB4027A-2006军用电子元器件破坏物理分析方法\x0d\x0a5)GJB128A-1997半导体分立器件试验方法


如何选择一款适合自己的x-ray检测机?

1、首先要知道自己应用在什么领域(如:医用、安检用、工业用)以及检测的属于什么产;
2、如果是工业用,需要知道被检测的产品属于什么类型(如:电子元器件、金属铸造件、材料);
3、确定产品密度或厚度,用来选择电压等级,常用2维X-RAY有90千伏、130千伏、160千伏、180千伏等;
4、根据自己的预算,选择既能满足检测要求又接近自己预算的X-RAY。


检测核辐射的仪器叫什么

  核辐射是一种无形的、对人类健康有害的辐射原因,而检测核辐射的仪器叫做辐射剂量仪。这种仪器可以测量辐射照射的强度和剂量,用来保护公众的健康和安全。
  一种常见的辐射剂量仪是Geiger计数器,它可以探测α、β和γ射线的强度和剂量。Geiger计数器使用一种放射性元素来制造电离,如果有射线穿过计数器,就会生成电离的原子和自由电子,这些电子会产生电流来显示辐射的强度和剂量。
  另一种检测核辐射的仪器是人形辐射剂量计,它是一种穿戴式设备,可以测量个人在工作场所或危险区域内受到的辐射剂量。这种仪器旨在保护人员免受过量的辐射暴露,同时确保员工的安全和健康。


核辐射检测仪的用途分类

一般来说购买核辐射检测仪的客户可大概分为4类:1.安全组织, 譬如警察局和消防队、紧急反应组织、环保组织、危险物料处置、金属回收公司、矿山等,他们接触到各种放射性的机率较高。2.港口、码头、机场等,这些地方因为人员及各类进出口货物流量大,特别涉及到出入境人员受放射线污染的机率较高。3.五金厂、陶瓷厂、医院、研究机构、实验室、药监局、大学等,他们接触到各种低强度或泄漏放射线的机率较高。4.关注居住环境质量及个人安全的私人个体, 比如某人想在家,食物、水中等寻找周围的环境污染(各种突发事故或恐怖分子攻击等)。

X射线荧光光谱仪

自从1895年伦琴(Roentgen WC)发现X射线之后不久,莫斯莱(Moseley HG)于1913年发表了第一批X射线光谱数据,阐明了原子结构和X射线发射之间的关系,并验证出X射线波长与元素原子序数之间的数学关系,为X射线荧光分析奠定了基础。1948年由弗里特曼和伯克斯设计出第一台商业用波长色散X射线光谱仪。自20世纪60年代后,由于电子计算机技术、半导体探测技术和高真空技术日新月异,促使X射线荧光分析技术的进一步拓展。X荧光分析是一种快速、无损、多元素同时测定的现代测试技术,已广泛应用于宝石矿物、材料科学、地质研究、文物考古等诸多领域。一、基本原理X射线是一种波长(λ=0.001~10nm)很短的电磁波,其波长介于紫外线和y射线之间。在高真空的X射线管内,当由几万伏高电压加速的一束高速运动的电子流投射到阳极金属靶(如钨靶、铜靶等)上时,电子的动能部分转变成X光辐射能,并以X射线形式辐射出来。从金属靶射出的X射线主要由两类波长、强度不等的X射线组成,即连续X射线谱及特征X射线谱。前者指在X射线波长范围内,由其短波限开始并包括各种X射线波长所组成的光谱。后者则指当加于X光管的高电压增至一定的临界数值时,使高速运动的电子动能足以激发靶原子的内层电子时,便产生几条具一定波长且强度很大的谱线,并叠加在连续X射线谱上,由特征X射线组成的光谱称为特征X射线谱。特征X射线谱源自原子内层电子的跃迁。当高速运动的电子激发原子内层电子,而导致X射线的产生,这种X射线称为“初级X射线”。若以初级X射线为激发手段,用以照射宝石样品,会造成宝石的原子内的电子发生电离,使内层轨道的电子脱离原子,形成一个电子空位,原子处于“激发态”,这样外层电子就会自动向内层跃迁,填补内层电子空位,进而发射出一定能量的X射线。由于它的波长和能量与原来照射的X射线不同,即发出“次级X射线”。人们将这种由于X射线照射宝石而产生的次级X射线称X射线荧光。通常,X射线荧光只包含特征X射谱线,而缺乏连续X射线谱。当能量高于原子内层电子结合能的高能X射线与原子发生碰撞时,驱逐一个内层电子而出现一个空穴,使整个原子体系处于不稳定的激发态,激发态原子寿命约为10-12~10-14秒,然后自发地由能量高的状态跃迁到能量低的状态。这个过程称为弛豫过程。弛豫过程既可以是非辐射跃迁,也可以是辐射跃迁。当较外层的电子跃迁到空穴时,所释放的能量随即在原子内部被吸收而逐出较外层的另一个次级光电子,此称为俄歇效应,亦称次级光电效应或无辐射效应,所逐出的次级光电子称为俄歇电子。它的能量是特征的,与入射辐射的能量无关。当较外层的电子跃入内层空穴所释放的能量不在原子内被吸收,而是以辐射形式放出,便产生X射线荧光,其能量等于两能级之间的能量差。因此,X射线荧光的能量或波长是特征性的,与元素有一一对应的关系。图2-2-1给出了X射线荧光和俄歇电子产生过程示意图。K层电子被逐出后,其空穴可以被外层中任一电子所填充,从而可产生一系列的谱线,称为K系谱线。由L层跃迁到K层辐射的X射线叫Ka射线,由M层跃迁到K层辐射的X射线叫Kβ射线。同样,L层电子被逐出可以产生L系辐射(见图2-2-2)。如果入射的X射线使某元素的K层电子激发成光电子后L层电子跃迁到K层,此时就有能量△E释放出来,且△E=EK-EL,这个能量是以X射线形式释放,产生的就是Ka射线,同样还可以产生Kβ射线、L系射线等。图2-2-1 X射线荧光和俄歇电子产生示意图图2-2-2 产生K系和L系辐射示意图莫斯莱(Moseley HG,1913)发现,X射线荧光的波长入与元素的原子序数Z有关,随着元素的原子序数的增加,特征X射线有规律的向短波长方向移动。他根据这种谱线移动规律,建立了关于X射线波长与其元素原子序数的关系定律,其数学关系如下:λ=K(Z-S)-2式中K和S是常数。因此,只要测出荧光X射线的波长,就可以知道元素的种类,这就是荧光X射线定性分析的基础。此外,荧光X射线的强度与相应元素的含量有一定的关系,据此,可以进行元素定量分析。二、X射线荧光光谱仪自然界中产出的宝石通常由一种元素或多种元素组成,用X射线照射宝石时,可激发出各种波长的荧光X射线。为了将混合在一起的X射线按波长(或能量)分开,并分别测量不同波长(或能量)的X射线的强度,以进行定性和定量分析,常采用两种分光技术。其一是波长色散光谱仪。它是通过分光晶体对不同波长的X射线荧光进行衍射而达到分光的目的,然后用探测器探测不同波长处的X射线荧光强度,这项技术称为波长色散(WDX)X射线荧光光谱仪。波长色散X射线荧光光谱仪(见图2-2-3)主要由X射线发生器、分光系统(晶体分光器)、准直器、检测器、多道脉冲分析器及计算机组成。图2-2-3 WDX1000波长色散X射线荧光光谱仪其二是能量色散X射线荧光光谱仪。它是利用荧光X射线具有不同能量的特点,将其分开并检测,不必使用分光晶体,而是依靠半导体探测器来完成。这种半导体探测器有锂漂移硅探测器、锂漂移锗探测器、高能锗探测器等。X光子射到探测器后形成一定数量的电子-空穴对,电子-空穴对在电场作用下形成电脉冲,脉冲幅度与X光子的能量成正比。在一段时间内,来自宝石的荧光X射线依次被半导体探测器检测,得到一系列幅度与光子能量成正比的脉冲,经放大器放大后送到多道脉冲分析器(通常要1000道以上)。按脉冲幅度的大小分别统计脉冲数,脉冲幅度可以用X光子的能量标度,从而得到计数率随光子能量变化的分布曲线,即X光能谱图。能谱图经计算机进行校正,然后显示出来,其形状与波谱类似,只是横坐标是光子的能量。能量色散的最大优点是可以同时测定样品中几乎所有的元素。因此,分析速度快。另一方面,由于能谱仪对X射线的总检测效率比波谱高,因此可以使用小功率X光管激发荧光X射线。另外,能谱仪没有光谱仪那么复杂的机械机构,因而工作稳定,仪器体积也小。缺点是能量分辨率差,探测器必须在低温下保存,对轻元素检测困难。能量色散X射线荧光光谱仪(见图2-2-4)主要由X射线发生器、检测器、放大器、多道脉冲分析器及计算机组成。图2-2-4 能量色散X射线荧光光谱仪近年来又发展以放射性同位素为激发源,如26Fe55、48Cd109、94Pu238、95Am241等,这些放射性同位素具有连续发射低能X射线的能力。不同的放射性同位素源可以提供不同特征能量的辐射。放射源激发的方法是:将很少量的放射性同位素物质固封在一个密封的铅罐中,留出孔径为几毫米或十几毫米的小孔,使X射线经过准直后照射被测宝石上。由于放射源激发具有单色性好、体积小且重量轻的特点,可制造成便携式仪器。但是放射源激发功率较低,荧光强度和测量灵敏度较低。三、应用由于X射线荧光光谱仪适用于各种宝石的无损测试,具有分析的元素范围广,从4Be到92U均可测定;荧光X射线谱线简单,相互干扰少,样品不必分离,分析方法比较简便;分析浓度范围较宽,从常量到微量都可分析(重元素的检测限可达10-6量级,轻元素稍差);分析快速、准确、无损等优点,近年来受到世界各大宝石研究所和宝石检测机构所重视并加以应用。(一)鉴定宝石种属自然界中,每种宝石具有其特定的化学成分,采用X射线荧光光谱仪可分析出所测宝石的化学元素和含量(定性—半定量),从而达到鉴定宝石种属的目的。例如,图2-2-5显示马达加斯加粉红色绿柱石中含少量Cs、Rb等致色元素,故可确定其为铯绿柱石。图2-2-5 铯绿柱石的能量色散X射线荧光光谱图(二)区分某些合成和天然宝石由于部分合成宝石生长的物化条件、生长环境、致色或杂质元素与天然宝石之间存在一定的差异,据此可作为鉴定依据。如早期的合成欧泊中有时含有天然欧泊中不存在的Zr元素;合成蓝色尖晶石中存在Co致色元素,而天然蓝色尖晶石中存在Fe杂质致色元素;采用焰熔法合成的黄色蓝宝石中普遍含有天然黄色蓝宝石中缺乏的Ni杂质元素;合成钻石中有时存在Fe、Ni或Cu等触媒剂成分等。(三)鉴别某些人工处理宝玉石采用X射线荧光光谱仪有助于快速定性区分某些人工处理宝石。如近期珠宝市场上面市的Pb玻璃充填处理红宝石中普遍富含天然红宝石中几乎不存在的Pb杂质元素;同理,熔合再造处理翡翠中富含天然翡翠中不存在的Pb杂质元素;有些染色处理黑珍珠中富含Ag元素,如图2-2-6显示染色黑珍珠中染色剂为硝酸银化合物。图2-2-6 染色黑珍珠的能量色散X射线荧光光谱图

国产X荧光光谱仪和国外的X荧光光谱仪有什么区别?

  X荧光光谱仪的工作方式主要分为两种,一种是波长色散的,另一种是能量色散的。
  由于两者的检测方式不同,造成了价格上的区别。
  波长色散X荧光光谱仪需要大功率激发,所以相对的仪器体积也比较大,工作功率大概在3KW到4KW。他的检测下限相对会更低一些。当然价格也会很高。都是百万以上的设备。
  能量色散X荧光光谱仪的工作功率就要低很多了,一般只有200W左右,而且体积也很小,检测下限要比波谱稍高一些,但是如果是用于生产中的检测应该没有问题。价格相对较低,一般在百万以内,但也要有几十万(大概70万左右,含国产制样设备,但配置不同,价格还会有差异)
  现在X荧光光谱仪的应用范围相对较广,无论是矿物,土壤,木材,化纤材料,金属,塑料橡胶,还有液体油品都可以检测。
  当然在选择设备时要注意的是该产品使用的荧光管、靶材还有检测器,这几个核心部件是仪器使用效果的关键。
  不建议使用国产设备,虽说这几年国产能谱的企业也除了很多,市场上也有一定的销量,但从仪器的稳定性,检测能力及设计结构的合理性,荧光管及靶材的选择方面,都相对有一些差距。


环境监测仪器包括哪些

温湿度变送器NHR-WS20,NHR-WS20系列温湿度控制仪是以先进的ARM芯片为控制核心,采用进口高性能温湿度传感器,可同时对温、湿度信号进行测量并变送输出给系统平台,为大数据的精确生产与管理提供真实的感知与依据。广泛应用于通讯机房、办公室、厂矿、车间、仓库、医院、档案室、博物馆、暖通空调、楼宇自控等环境的温湿度测量。NHR-WS20光照度变送器NHR-MT30,NHR-MT30系列光照度变送器是一款光精度感光变送器,输出数值计量单位为Lux。主要应用于农业大棚、花 卉培养温室、农业大田、电子设备生产线等需要光照度监测的场合。该产品采用宽压10~30V直流供电, 模拟量信号输出或RS485通讯输出可选。变送器采用壁挂防水外壳,壁挂式安装,防护等级高。NHR-MT30二氧化碳变送器NHR-MT20,NHR-MT20系列二氧化碳变送器采用新型红外检定技术进行CO2浓度测量,反应迅速灵敏,准确度高,漂移小,寿命长,避免了传统电化学传感器的寿命及长时间漂移问题;自带温度补偿,受温度影响小。该产品采用宽压10~30V直流供电,模拟量信号输出或RS485通讯输出可选,外壳防护等级高,能适应现场各种恶劣条件。NHR-MT20氧气变送器NHR-MT10,NHR-MT10系列氧气变送器采用电化学原理实现对氧气的定量测量,具有反应灵敏,低功耗,高精度,测量范围宽,抗干扰能力强等特点。该产品采用宽压10~30V直流供电,模拟量信号输出或RS485通讯输出可选。外壳防护等级高,适用于在各种恶劣环境下对氧气的检测。NHR-MT10

环境监测要用什么仪器

1、大气采样器:采集气体
2、颗粒物采样器:捕集环境大气中的总悬浮微粒(TSP)和可吸入微粒(PM10)或细颗粒(PM2.5)
3、大气颗粒物综合采样器:采集环境大气、室内空气中各种有害气体,应用滤膜称重法捕集环境大气中的总悬浮微粒(TSP)和可吸入微粒(PM10、PM2.5)
4、自动烟尘烟气测试仪:测量管道烟囱排放的烟尘和烟气的浓度
5、烟尘采样器:采集管道烟囱中的烟尘
6、汽车尾气分析仪:检测汽车排放
7、不透光烟度计:测不透光、油温、转速
8、林格曼黑度计:观测距离:10-1000米
9、液相色谱仪:定性、定量分析
10、气相色谱仪:定性、定量分析
11、紫外可见分光光度计:测量物质对不同波长单色辐射的吸收程度,定量分析
12、离子色谱仪:适用于亲水性阴、阳离子的分离
13、台式浊度计:测水中的浑浊度
14、台式电导率仪:电解质溶液电导率值


地铁安检机真实辐射有多大?

辐射量极小;几乎没有危害,具体情况如下: 按每年365天、每天通过地铁安检2次计算,地铁乘客每年因地铁安检接受的辐射剂量不大于0.01mSv(10μSv),该值仅相当于1.5天的天然本底辐射剂量或者乘飞机飞行2小时的辐射剂量,因此,不会对乘客造成伤害。生产X射线行李包检查仪的单位必须按照法规要求申领《辐射安全许可证》,所生产的产品辐射安全指标也必须符合有关标准要求,这些设备在正常使用时不会对环境和附近经过的公众造成身体伤害。地铁安检注意事项早晚高峰期安检在一定程度上也起到了限流的作用,尤其在大客流车站或者早晚高峰突发大客流时间段能够给车站承载的压力带来缓解。站台承载力有限,车厢承载力也有限,所以不能在早晚高峰期取消安检。更重要的一点是乘坐地铁人员日益增长,安检仪器是为了保障乘客更好的安全出行。安检时切不可图一时之快,把手伸入安检机中取包,毕竟射线是在机器内部进行垂直照射的,手伸入内部会受到辐射。因此,正确接受安检,对人的健康是不会有害的。

地铁安检有辐射吗

地铁安检有辐射,并不会对人产生直接危害,但也应尽量避免。这是因为安检仪器产生的辐射量很少,且射线只在机器内部垂直照射,所以人们不必太担心辐射问题。
地铁是在城市中修建的快速、大运量、用电力牵引的轨道交通。列车在全封闭的线路上运行,位于中心城区的线路基本设在地下隧道内,中心城区以外的线路一般设在高架桥或地面上,英语为metro(undergroundrailway、subway)。地铁是涵盖了城市地区各种地下与地上的路权专有、高密度、高运量的城市轨道交通系统(Metro),中国台湾地铁称之为“捷运”(Rapidtransit)。


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赌具x光透视仪是真的吗?

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x光透视仪最常见的就是在医学领域和安检的应用了,基本上都是大型设备。便捷的透视仪市面上很少几乎没有。【回答】
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x-ray检测设备工作原理是什么?

x-ray检测设备的工作原理
1.1 基本原理  X-ray检测设备通过x光线穿透待检测样品,然后在图像探测器上映射出一个X光影像。该影像的形成质量主要由分辨率及对比度决定。成像系统的分辨率取决于X射线。

x-ray检测设备是通过高压加速电子撞击金属板释放出的x-ray穿透样品,留下影像,技术人员通过影像的明暗度来观测样品的相关细节。如上图所示可以检测PCB线路断开,IC缺陷,锡球开裂等一系列的异常。

1.基本概要

x-ray检测设备通过x光穿透待检测样品,然后在图像探测器上映射出一个X光影像,该影像的形成质量主要由分辨率及对比度决定,一般来说x-ray检测仪的光管性能起着非常大的作用,目前卓茂光电的x-ray设备全都采用日本进口滨松HAMAMATSU作为核心部件。

2.x射线管

x射线管主要提供电子从热阴极通过电场,向阳极加速的作用。当电子在几十千伏的高压下迅速提速到高速状态,撞击到阳极体时动能转化释放出X射线。碰撞区域的大小就是X射线源的大小,通过小孔成像原理,我们可以粗略的得知x射线源的大小与清晰度成反比,即x-ray射线源越小,成像越清晰。

3.x射线探测器

x射线探测器弥补了过去化学胶片成像的不足,通过探测器可以节省成本的同时提升效率。


x-ray检测设备是用来做什么的

X-RAY无损检测X光射线(以下简称X-Ray)是利用一阴极射线管产生高能量电子与金属靶撞击,在撞击过程中,因电子突然减速,其损失的动能会以X-Ray形式放出,具有非常短的波长但高电磁辐射线。 X-RAY无损检测X光射线 (以下简称X-Ray) 是利用一阴极射线管产生高能量电子与金属靶撞击,在撞击过程中,因电子突然减速,其损失的动能会以X-Ray形式放出,其具有非常短的波长但高电磁辐射线。 而对于样品无法以外观方式检测的位置,利用纪录X-Ray穿透不同密度物质后其光强度的变化,产生的对比效果可形成影像即可显示出待测物之内部结构,进而可在不破坏待测物的情况下观察待测物内部有问题的区域。 检测项目: 1.IC封装中的缺陷检验如﹕层剥离(stripping)、爆裂(crack)、空洞(cavity)以及打线的完整性检验。 2.印刷电路板制程中可能产生的缺陷,如﹕对齐不良或桥接(bridging)以及开路(open)。 3.SMT焊点空洞(cavity)现象检测与量测(measuration)。 4.各式连接线路中可能产生的开路(open),短路(short)或不正常连接的缺陷检验。 5.锡球数组封装及覆芯片封装中锡球(solder ball)的完整性检验。 6.密度较高的塑料材质破裂(plastic burst)或金属材质空洞(metal cavity)检验。 7.芯片尺寸量测(dimensional measurement),打线线弧量测,组件吃锡面积(Solder area)比例量测。

x-ray检测设备是用来做什么的

  X-RAY无损检测X光射线 (以下简称X-Ray) 是利用一阴极射线管产生高能量电子与金属靶撞击,在撞击过程中,因电子突然减速,其损失的动能会以X-Ray形式放出,其具有非常短的波长但高电磁辐射线。

  而对于样品无法以外观方式检测的位置,利用纪录X-Ray穿透不同密度物质后其光强度的变化,产生的对比效果可形成影像即可显示出待测物之内部结构,进而可在不破坏待测物的情况下观察待测物内部有问题的区域。

  检测项目:

  1.IC封装中的缺陷检验如﹕层剥离(stripping)、爆裂(crack)、空洞(cavity)以及打线的完整性检验。

  2.印刷电路板制程中可能产生的缺陷,如﹕对齐不良或桥接(bridging)以及开路(open)。

  3.SMT焊点空洞(cavity)现象检测与量测(measuration)。

  4.各式连接线路中可能产生的开路(open),短路(short)或不正常连接的缺陷检验。

  5.锡球数组封装及覆芯片封装中锡球(solder ball)的完整性检验。

  6.密度较高的塑料材质破裂(plastic burst)或金属材质空洞(metal cavity)检验。

  7.芯片尺寸量测(dimensional measurement),打线线弧量测,组件吃锡面积(Solder area)比例量测。


奥林巴斯X射线荧光分析仪有哪些功能?

能在现场即时无损方式快速完成元素分析且提供精准的分析结果,这是奥林巴斯X射线荧光分析仪好评如潮的理由。就拿小巧紧凑、轻盈便携的手持式X射线荧光分析仪来说,可以定量分析周期表中90%以上的元素,从镁到铀,这些可测定的元素覆盖了国内商用发展及合金中使用的大部分传统元素,在高温、雨淋等恶劣条件下具有不同寻常的耐用性能,通过抗摔测试,确保X射线荧光分析仪保持卓越的分析性能,还可选Wi-Fi和蓝牙功能,实现数据共享,应用云技术,甚至有类似智能手机的用户界面,简单直观,方便操作。总而言之,奥林巴斯X射线荧光分析仪可以让一个非专业人员轻松实现合金辨别分析并得到准确的分析结果。


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